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資料下(xià)載
紫外成像儀是否可(kě)以取代紅外熱(rè)像儀?

電暈隻能引起及其微小的(de)熱(rè)量,發熱(rè)故障不一定會産生電暈。紫外成像儀可(kě)以看到的(de)現象往往紅外成像儀不能看到,而紅外成像儀可(kě)以看到的(de)現象往往紫外成像儀不能看到。因此紫外成像和(hé)紅外成像檢測是一種互補性性技術。電力設施一個(gè)完整的(de)檢測應該包括紫外成像、紅外成像和(hé)可(kě)見光(guāng)檢測。經過EPRI的(de)對(duì)電網檢測數據統計,在所發現的(de)問題中,50%是用(yòng)紫外發現的(de),28%是紅外檢測的(de),22%是可(kě)見光(guāng)即可(kě)發現。

項目

紫外UV檢測

紅外IR檢測

光(guāng)譜範圍

250nm-280nm, 用(yòng)于白天電暈的(de)檢測

8-14微米

儀器敏感範圍

電暈産生的(de)紫外輻射

熱(rè)産生的(de)紅外輻射

産生原因

絕緣子;套管;導線;污染;導線損壞;分(fēn)離器松弛;部件尖部;絕緣子安裝不當;弧型喇叭缺失等

有電流時(shí)的(de)電阻型發熱(rè)缺陷;連接不良;帶電絕緣子内部缺陷,強電弧。

電力因素

與電壓有關 

與電流有關

檢測時(shí)加載

不需要

需要

強陽光(guāng)的(de)幹擾

不受太陽光(guāng)的(de)影(yǐng)響;爲全日盲檢測

受陽光(guāng)的(de)幹擾

天氣狀況

高(gāo)濕度,低氣壓和(hé)高(gāo)溫促進電暈放電

高(gāo)溫天氣幹擾檢測,雨(yǔ)天不能檢測

音(yīn)頻(pín)噪音(yīn)

缺陷的(de)檢測導緻音(yīn)頻(pín)噪音(yīn)

無信号

幹擾

會導緻TV和(hé)無線電幹擾

無信号

成像通(tōng)道

雙通(tōng)道:可(kě)見光(guāng)+UV,合成圖像視頻(pín)

單通(tōng)道或者可(kě)見光(guāng)+紅外通(tōng)道

FOV

很窄,可(kě)以看到細節

UV成像儀寬許多(duō)

輸出

視頻(pín)剪輯

靜态

檢測階段

一般可(kě)檢測出缺陷劣化(huà)前期

往往檢測缺陷後期的(de)現象

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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